1、平衡條件

(1) 明確轉(zhuǎn)子為剛性轉(zhuǎn)子

(2) 明確轉(zhuǎn)子存有不平衡故障不平衡屬于低頻故障， 當(dāng)5Hz～1KHz的通頻振動（偏移峰峰值或速度有效值）較標(biāo)準(zhǔn)值有明顯擴(kuò)大時， 表明機(jī)器有低頻類故障在發(fā)展。 欲進(jìn)一步明確其是不是為不平衡故障，需開展頻譜分析。不平衡故障表現(xiàn)在轉(zhuǎn)子徑向轉(zhuǎn)頻上的振幅擴(kuò)大，而在軸向和別的倍頻分量上振幅擴(kuò)大相對不明顯。 若軸向或別的倍頻分量上的振幅與徑向轉(zhuǎn)頻處的振幅一起明顯擴(kuò)大， 乃至擴(kuò)大速率超出徑向轉(zhuǎn)頻處的振動幅值的擴(kuò)大速率，則應(yīng)考慮彎曲、不對中或松動等別的故障。

2、平衡打算

(1) 明確轉(zhuǎn)子的平衡種類和平衡方式依據(jù)轉(zhuǎn)子直徑與其長度的關(guān)系明確其需做單面平衡或雙面平衡， 并決定應(yīng)用試重法或影響系數(shù)法對其進(jìn)行動平衡。 若應(yīng)用影響系數(shù)法須事先從上位 PC機(jī)中下載該轉(zhuǎn)子的影響系數(shù)，或記錄下該轉(zhuǎn)子的影響系數(shù)，以便需用時手動輸入。

(2) 選擇測點(diǎn)位置根據(jù)轉(zhuǎn)子的平衡類型在該轉(zhuǎn)子設(shè)備上選擇相應(yīng)的測量平面和測點(diǎn)位置， 以便安置振動傳感器。 測量平面應(yīng)選在轉(zhuǎn)子的軸承座或附近剛性較高、 較為平坦的金屬表面上。 測點(diǎn)應(yīng)布置在測量平面內(nèi)徑向振動量最大位置或規(guī)定位置上，一般選擇轉(zhuǎn)子兩邊軸承座為測量平面， 測點(diǎn)以水平方向?yàn)楹谩?nbsp;單面平衡只需安置一個測點(diǎn)，雙面平衡需安置兩個測點(diǎn)。測點(diǎn)位置需做上標(biāo)記，以便以后測量。

(3) 挑選校正面和加試重位置若應(yīng)用試重法， 充分考慮轉(zhuǎn)子的構(gòu)造特性， 挑選轉(zhuǎn)子上便捷安裝試探質(zhì)量和校正質(zhì)量的平面作為校正面。 以相同的標(biāo)準(zhǔn)在校正面上挑選以轉(zhuǎn)軸為圓心、 Rc為半徑的校正圓。 在校正圓上搞好試重位置標(biāo)識。 校正半徑應(yīng)盡可能大， 以提升角度定位精度，減少試探質(zhì)量。 單面平衡只需在1個平面內(nèi)進(jìn)行校正， 挑選1個試重位置即可。雙面平衡需要2個平面上進(jìn)行校正，應(yīng)以兩個校正面中間的間距盡大，2個試重位置角度相距 0o。若應(yīng)用影響系數(shù)法， 則規(guī)定仍選用獲得該影響系數(shù)時的測量標(biāo)準(zhǔn)：同樣的負(fù)載、轉(zhuǎn)速，同樣的振動和轉(zhuǎn)速測量位置，同樣的反光條粘貼位置，且能辨認(rèn)出獲得該系數(shù)時的試重位置。故所述第（ 2）、（3）步和以下第（6）步均可省略。

(4) 粘貼反光條在轉(zhuǎn)軸或轉(zhuǎn)子表層上， 沿與轉(zhuǎn)子軸線平行的方位粘貼反光條。 需確保反光條附近有必須的空間可安裝用于固定轉(zhuǎn)速傳感器的工具， 且反光條與轉(zhuǎn)軸柱面的反光性能有足夠的反差。

(5) 確定轉(zhuǎn)速傳感器轉(zhuǎn)速傳感器需安裝在磁性表座上隨后將表座吸咐在一剛性金屬表面， 使傳感器傳出的激光束切割反光條根據(jù)的位置上。 轉(zhuǎn)速傳感器安裝平穩(wěn)是否立即影響相位精密度。

(6) 挑選試探質(zhì)量試探質(zhì)量用于臨時更改一下轉(zhuǎn)子的質(zhì)量分布， 便于找到試探質(zhì)量與轉(zhuǎn)子振動之間的關(guān)系。試探質(zhì)量過大，設(shè)備有將會達(dá)沒到設(shè)定轉(zhuǎn)速；試探質(zhì)量過小，則振動變化不明顯， 使測量結(jié)果不精確。 留意積累經(jīng)驗(yàn)盡可能于恰當(dāng)挑選試探質(zhì)量。 單面平衡用一塊試探質(zhì)量即可。 雙面平衡可應(yīng)用二塊不一樣的試探質(zhì)量， 也可應(yīng)用同一塊試探質(zhì)量。試探質(zhì)量的挑選可參考以下公式：

 

式中： Mt------ 試探質(zhì)量， Kg 

       M------- 轉(zhuǎn)子質(zhì)量， Kg

       n------- 平衡轉(zhuǎn)速， r/min 

       D 0------- 原始振幅， μm 

       r-------- 轉(zhuǎn)子半徑， m 

3、單面試重法平衡流程弄完平衡準(zhǔn)備工作后，單面試重法平衡流程如下：

(1) 將振動傳感器吸咐在選定的測點(diǎn)上， 轉(zhuǎn)速傳感器確定在正對反光條根據(jù)的位置上。

(2) 將振動傳感器和轉(zhuǎn)速傳感器連接到動平衡儀上，留意理順導(dǎo)線，避免被絞進(jìn)轉(zhuǎn)子；開啟動平衡儀。

(3) 啟動設(shè)備至設(shè)定轉(zhuǎn)速，平穩(wěn)后測定并儲存原始振動烈度和相位。

(4) 停止設(shè)備，把選中的試探質(zhì)量安置在選定的試重部位上，并在儀器中輸入所加試重的質(zhì)量。

(5) 重啟設(shè)備，平穩(wěn)后測量并儲存加試重后的振動烈度和相位。

(6) 用儀器開展平衡結(jié)算獲得需要安置的校正質(zhì)量大小和位置角度。

(7) 停止設(shè)備轉(zhuǎn)動，去除試探質(zhì)量。將解計(jì)算的校正質(zhì)量安置在校正圓上校正角度選定的位置。 若因?yàn)檗D(zhuǎn)子構(gòu)造問題， 此位置不能安置校正質(zhì)量， 則可執(zhí)行現(xiàn)場動平衡儀的矢量分解功能。 將此校正質(zhì)量轉(zhuǎn)化成2個分量， 安置到2個便捷安置的部位上。 校正質(zhì)量的安置角度由試探質(zhì)量所在位置起沿轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)動方向度量。若不愿去出試探質(zhì)量，還可以將其做為1個矢量分量（角度為零度），計(jì)算另外矢量分量， 使兩者合成結(jié)果等效于校正質(zhì)量， 隨后按計(jì)算的分量的大小和)3000n(4 ~ 8) r (2M D0M t角度安置在轉(zhuǎn)子上。

(8) 再一次啟動設(shè)備，穩(wěn)定后測定并儲存剩下振動烈度，將其與原始振動烈度比較，檢查平衡效果怎樣及是不是符合規(guī)定。 若剩下振動烈度仍過大， 則再次進(jìn)行平衡解算，算出第二次平衡要用的校正質(zhì)量尺寸和位置角度。

(9) 停止設(shè)備轉(zhuǎn)動，將第二次平衡解計(jì)算的校正質(zhì)量安置到校正面上。

(10) 再一次啟動設(shè)備，平穩(wěn)后測定并儲存兩次平衡后的剩下振動烈度。

(11) 關(guān)掉設(shè)備，將此次儲存的平衡數(shù)據(jù)發(fā)送至上位機(jī)中。

4、單面影響系數(shù)法平衡

做好平衡準(zhǔn)備工作后，單面影響系數(shù)法平衡流程如下：

(1) 檢查原轉(zhuǎn)速反光條是不是仍存有。若找不到，且原位置沒法分辨，則該影響系數(shù)失效，需改成試重法。若反光條反光性能降低，必須拆換反光條，且要確保與原位置相同。

 (2) 將振動傳感器吸附在舊的測量點(diǎn)標(biāo)識上， 轉(zhuǎn)速傳感器確定在正對反光條根據(jù)的位置上。

 (3) 將振動傳感器和轉(zhuǎn)速傳感器連接到動平衡儀上， 注意理順導(dǎo)線， 避免被絞進(jìn)轉(zhuǎn)子；啟用現(xiàn)場動平衡儀。

 (4) 啟動設(shè)備至設(shè)置轉(zhuǎn)速，平穩(wěn)后測量并儲存原始振動烈度和相位。

 (5) 手動輸入影響系數(shù)或應(yīng)用下載的影響系數(shù)開展平衡解算， 獲得要用的校正質(zhì)量尺寸和位置角度。

 (6) 停止設(shè)備旋轉(zhuǎn)，將解計(jì)算的校正質(zhì)量安置在校正圓上校正角度特定的位置。若因?yàn)檗D(zhuǎn)子構(gòu)造問題， 此位置不能安置校正質(zhì)量， 則可執(zhí)行現(xiàn)場動平衡儀的矢量分解功能。將此校正質(zhì)量轉(zhuǎn)化成兩個分量，安置到2個便捷安置的部位上。校正質(zhì)量的安置角度由試探質(zhì)量所在位置起沿轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)方向度量。

 (7) 再一次啟動設(shè)備， 平穩(wěn)后測定并儲存剩下振動烈度， 將其與原始振動烈度比較，檢查平衡作用怎樣及是不是符合規(guī)定。 若剩下振動烈度仍過大， 則再次開展平衡解算，算出第二次平衡要用的校正質(zhì)量尺寸和位置角度。

 (8) 停止設(shè)備旋轉(zhuǎn)，將兩次平衡解計(jì)算的校正質(zhì)量安置到校正面上。

 (9) 再一次啟動設(shè)備，平穩(wěn)后測量并儲存兩次平衡后的剩余振動烈度。

 (10) 關(guān)掉設(shè)備，將此次儲存的平衡數(shù)據(jù)發(fā)送至上位機(jī)中。

5、雙面試重法平衡流程

  雙面試重法平衡流程與單面試重法平衡相近， 可是務(wù)必在2個平面內(nèi)測量振動，并在2個平面上開展校正。雙面試重法平衡流程如下（見圖 2-1）：

(1) 將振動傳感器吸咐在選定的測點(diǎn) A平面上。

(2) 轉(zhuǎn)速傳感器確定在正對反光條通過的部位上。

(3) 將振動傳感器和轉(zhuǎn)速傳感器連接到動平衡儀上，注意理順導(dǎo)線，避免被絞進(jìn)轉(zhuǎn)子；開啟現(xiàn)場動平衡儀。

(4) 啟動設(shè)備至設(shè)置轉(zhuǎn)速，平穩(wěn)后測量并儲存測量點(diǎn) A平面處的原始振動烈度和相位。

(5) 將振動傳感器移到選中的測點(diǎn) B平面處，平穩(wěn)后測定并儲存測點(diǎn) B平面處

 

 

圖 2-1 雙面轉(zhuǎn)子平衡

 

的原始振動烈度和相位。

(6) 停止設(shè)備旋轉(zhuǎn)， 將選中的試探質(zhì)量 1安置在選定的校正平面 1內(nèi)的試重位置標(biāo)識處。在儀器中輸入所加試探質(zhì)量 1的質(zhì)量值。

(7) 將振動傳感器移到測量點(diǎn) A平面處，重啟設(shè)備至設(shè)置轉(zhuǎn)速，平穩(wěn)后測定并儲存加試探質(zhì)量 1后測點(diǎn) A平面處的振動烈度和相位。

(8) 將振動傳感器移到測點(diǎn) B平面處，穩(wěn)定后測量并存儲加試探質(zhì)量 1后測點(diǎn)B平面處的振動烈度和相位。

(9) 停止設(shè)備旋轉(zhuǎn)， 去除校正平面 1內(nèi)的試探質(zhì)量 1。將選中的試探質(zhì)量 2（能夠依然應(yīng)用試探質(zhì)量 1）安置在選定的校正平面 2內(nèi)的試重位置標(biāo)識處。 在儀器中輸入所加試探質(zhì)量 2的質(zhì)量值。

(10) 將振動傳感器移到測點(diǎn) A平面處，再一次啟動設(shè)備至設(shè)置轉(zhuǎn)速，平穩(wěn)后測量并儲存加試探質(zhì)量 2后測點(diǎn) A平面處的振動烈度和相位

(11) 將振動傳感器移到測點(diǎn) B平面處，平穩(wěn)后測量并儲存加試探質(zhì)量 2后測點(diǎn)B平面處的振動烈度和相位。

(12) 用儀器開展平衡結(jié)算獲得需要安置的校正質(zhì)量 1的尺寸、角度和校正質(zhì)量2的尺寸、角度。

(13) 停止設(shè)備旋轉(zhuǎn)，去除試探質(zhì)量 2。將解計(jì)算的校正質(zhì)量 1安置在校正面 1上，校正質(zhì)量 2安置在校正面 2上，每個校正質(zhì)量的安置半徑與其校正面上的試探

質(zhì)量安置半徑相同， 安置角度由其校正面上的試探質(zhì)量所在位置起沿轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)方向度量。在任意校正面上，若因?yàn)檗D(zhuǎn)子構(gòu)造問題，此位置不能安置校正質(zhì)量，則可執(zhí)行現(xiàn)場動平衡儀的矢量分解功能。將該校正面上的校正質(zhì)量轉(zhuǎn)化成2個分量，安置到2個便捷安置的部位上。

(14) 將振動傳感器移到測點(diǎn) A平面處，重新啟動設(shè)備，平穩(wěn)后測量并儲存測點(diǎn)A平面處的剩下振動烈度和相位。

(15) 將振動傳感器移到測點(diǎn) B平面處，平穩(wěn)后測量并儲存測點(diǎn) B平面處的剩下振動烈度和相位。

(16) 將測點(diǎn) A、B平面處的剩下振動烈度與原始振動烈度比較，檢查平衡作用怎樣及是不是符合規(guī)定。 若剩下振動烈度仍過大， 則繼續(xù)開展平衡解算， 算出兩次平衡要用的校正質(zhì)量尺寸和位置角度。

(17) 停止設(shè)備轉(zhuǎn)動，將兩次平衡解計(jì)算的2個校正質(zhì)量各自安置到2個校正面上。

(18) 將振動傳感器移到測量點(diǎn) A平面處，重新啟動設(shè)備，平穩(wěn)后測量并儲存測點(diǎn)A平面處兩次平衡后的剩余振動烈度和相位。

(19) 將振動傳感器移到測點(diǎn) B平面處，穩(wěn)定后測量并存儲測點(diǎn) B平面處第二次平衡后的剩余振動烈度和相位。

(20) 關(guān)閉機(jī)器，將本次存儲的平衡數(shù)據(jù)發(fā)送至上位機(jī)中。

6、雙面影響系數(shù)法平衡步驟雙面影響系數(shù)法平衡步驟如下：

(1) 檢查原轉(zhuǎn)速反光條是否仍存在。若不存在，且原位置無法辨認(rèn)，則該影響系數(shù)失效，需改用試重法。若反光條反光性能下降，需要更換反光條，且要保證與原位置重合。

(2) 將振動傳感器吸附在舊的測點(diǎn) A平面處，轉(zhuǎn)速傳感器固定在對著反光條通過的位置上。

(3) 將振動傳感器和轉(zhuǎn)速傳感器連接到動平衡儀上，注意理順導(dǎo)線，防止被絞進(jìn)轉(zhuǎn)子；開啟動平衡儀。

(4) 啟動機(jī)器至設(shè)定轉(zhuǎn)速，穩(wěn)定后測量并存儲測點(diǎn) A平面處的初始振動烈度和相位。

(5) 將振動傳感器移到舊的測點(diǎn) B平面處，穩(wěn)定后測量并存儲測點(diǎn) B平面處的振動烈度和相位。

(6) 手動輸入影響系數(shù)或使用下載的影響系數(shù)進(jìn)行平衡解算， 得出校正質(zhì)量1的大小、角度和校正質(zhì)量 2的大小、角度。

(7) 停止機(jī)器轉(zhuǎn)動，將平衡解算出的校正質(zhì)量 1安置在校正面 1上，校正質(zhì)量2安置在校正面 2上，每一校正質(zhì)量的安置半徑與其校正面上的試探質(zhì)量安置半徑相同，安置角度由其校正面上的試探質(zhì)量所在位置起沿轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)動方向度量。 在任一校正面上， 若由于轉(zhuǎn)子結(jié)構(gòu)問題， 此位置不可安置校正質(zhì)量， 則可執(zhí)行現(xiàn)場動平衡儀的矢量分解功能。 將該校正面上的校正質(zhì)量分解成兩個分量， 安置到兩個方便安置的位置上。

(8) 將振動傳感器移到測點(diǎn) A平面處，重新啟動機(jī)器至設(shè)定轉(zhuǎn)速，穩(wěn)定后測量并存儲測點(diǎn) A平面處的剩余振動烈度和相位。

(9) 將振動傳感器移到測點(diǎn) B平面處，穩(wěn)定后測量并存儲測點(diǎn) B平面處的剩余振動烈度和相位。

(10) 將測點(diǎn) A、B平面處的剩余振動烈度與初始振動烈度比較，檢查平衡效果如何及是否符合要求。 若剩余振動烈度仍較大， 則繼續(xù)進(jìn)行平衡解算， 得出第二次平衡需用的校正質(zhì)量大小和位置角度。

(11) 停止機(jī)器轉(zhuǎn)動，將第二次平衡解算出的兩個校正質(zhì)量分別安置到兩個校正面上。

(12) 將振動傳感器移到測點(diǎn) A平面處，重新啟動機(jī)器，穩(wěn)定后測量并存儲測點(diǎn)A平面處第二次平衡后的剩余振動烈度和相位。

(13) 將振動傳感器移到測點(diǎn) B平面處，穩(wěn)定后測量并存儲測點(diǎn) B平面處第二次平衡后的剩余振動烈度和相位。

(14) 關(guān)閉機(jī)器，將本次存儲的平衡數(shù)據(jù)發(fā)送至上位機(jī)中。